BECKMAN COULTER LIFE SCIENCES

LS 13 320 XR Optische analyzer MW

Referentie: BEC-B98100

De LS 13 320 XR laserdiffractie-deeltjesgrootteanalyzer biedt de beste verdeling van de deeltjesgrootte in zijn klasse dankzij de geavanceerde PIDS-technologie. Hierdoor zijn metingen mogelijk met een hoge resolutie en een groter dynamisch bereik. Net als de LS 13 320 levert de XR-deeltjesgrootteanalyzer snelle, nauwkeurige resultaten terwijl u uw werkstromen kunt stroomlijnen voor een optimale efficiëntie. Dankzij een aantal grote verbeteringen kunt u op betrouwbare wijze kleine verschillen opsporen die een enorme impact kunnen hebben op uw deeltjesanalysegegevens.

- Direct meetbereik van 10 nm – 3500 µm
- Markeert automatisch geslaagde/mislukte resultaten voor snellere kwaliteitscontrole
- Verbeterde software die methode-creatie voor gestandaardiseerde metingen vereenvoudigt
- Nieuwe controlenormen om de prestaties van instrumenten/modules adequaat te verifiëren

Vraag meer info

Technische Informatie

Technologie:
Lichtverstrooiing onder een lage hoek met aanvullende PIDS-technologie (Polarization Intensity Differential Scattering).
Analyse van verticaal en horizontaal gepolariseerd licht onder zes verschillende hoeken m.b.v. drie extra golflengten.
Volledige implementatie van zowel de Fraunhofer- als de Mie-theorie.

Lightbron:
- Diffractie: laserdiode (785 nm)
- PIDS: wolfraamlamp met hoogwaardige banddoorlaatfilters (475, 613 en 900 nm)

Bereik deeltjesgrootteanalyse:
- Meetbereik: 10 nm – 3500 µm
- Dry Powder System Module (DPS): 400 nm - 3500 µm
- Universal Liquid Module (ULM): 10 nm - 2000 µm

Conformiteit:
Creëert 21 CFR Part 11-compatibele functies RoHS

Certificeringen:
- EU EMC-richtlijn 2014/30/EU
- CISPR 11:2009/A1:2010
- Australië en Nieuw-Zeeland RCM-markering

Bestandsformaten voor data-export: XLSX, TSV, PDF

Softwarebesturingssysteem: vereist Microsoft Windows 10, 64-bits omgeving (enkel US English regionale instellingen).