Systèmes de serrage et de fixation
Les solutions de mesure optique sont principalement utilisées pour les tâches de mesure qui requièrent une haute densité de données, une mesure 3D complète, de la rapidité et l'utilisation de machines de mesure à proximité de la production. Outre l'évaluation métrologique rapide des contours extérieurs, la tomographie assistée par ordinateur permet l'analyse non destructive des géométries internes et des défauts.
La métrologie des surfaces et des contours garantit la qualité en ce qui concerne les écarts de forme fins et grossiers des produits et donc, en fin de compte, leur fonctionnalité.
Comme vous pouvez le voir dans la vidéo, nous offrons tout l'univers des systèmes de fixation, non seulement pour les MMT ou les machines optiques, mais aussi pour la tomographie des contours et des surfaces et bien d'autres choses encore.
Découvrez l'univers complet des systèmes de fixation
dk FIXIERSYSTEME fabrique des montages modulaires pour une gamme complète de disciplines métrologiques :
Mesure tactile
Mesure optique
Vision industrielle et capteurs
Mesure des surfaces et des contours
Tomographie assistée par ordinateur
Systèmes de métrologie laser
Téléchargez le catalogue suivant pour obtenir une vue d'ensemble des produits.
Systèmes de serrage innovants pour des mesures de précision
Le système de serrage à point zéro SWA39 de dk est dans tous les cas le système de fixation et de serrage universel. Il constitue la base d'un positionnement parfait dans de nombreux processus de mesure tactiles et optiques.
Pour la tomographie assistée par ordinateur, SWA39 CT est à ce jour le seul système de fixation modulaire professionnel au monde doté d'interfaces à changement rapide et d'un large choix d'éléments de base, d'éléments complémentaires et d'éléments de serrage avec des porte-pièces compatibles avec le CT. Il en va de même pour la métrologie des contours et des surfaces avec SWA39 SURF.
Notre Système de serrage SCHIENENFIX is also suitable for optical measurements. This fixturing system is used with measuring projectors and measuring microscopes and ensures highly precise edge measurements.
